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申请/专利权人：株式会社堀场先进技术
摘要：本发明提供一种光学分析装置，通过向收纳有试样的光学池照射光、检测透射该光学池后的光来分析所述试样，具备：第一光源部及第二光源部，发出彼此不同的光谱的光；光学元件，反射所照射的光的一部分且透射所照射的光的一部分，具有：第一面，被照射来自所述第一光源部的光；以及第二面，被照射来自所述第二光源部的光；第一光输出口，设置在被所述第一面反射后的来自所述第一光源部的光以及透射所述第二面后的来自所述第二光源部的光的光路上；以及第二光输出口，设置在透射所述第一面后的来自所述第一光源部的光的光路上。
主权项：1.一种光学分析装置，其特征在于，所述光学分析装置通过向收纳有试样的光学池照射光并检测透射该光学池后的光来分析所述试样，所述光学分析装置具备：第一光源部及第二光源部，发出彼此不同的光谱的光；光学元件，反射所照射的光的一部分且透射所照射的光的一部分，具有：第一面，被照射来自所述第一光源部的光；以及第二面，被照射来自所述第二光源部的光；第一光输出口，设置在被所述第一面反射后的来自所述第一光源部的光以及透射所述第二面后的来自所述第二光源部的光的光路上；以及第二光输出口，设置在透射所述第一面后的来自所述第一光源部的光的光路上。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社堀场先进技术 光学分析装置以及复合分析装置
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