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用于坐标测量机的开环距离调节 

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申请/专利权人:赫克斯冈技术中心

摘要:本发明涉及用于坐标测量机的开环距离调节。本发明涉及在测量期间控制CMM的非接触式测量探头与工件之间的距离的方法。该方法包括以下步骤:1.提供操纵命令以操纵工件和或探头通过包括测量位置的测量路径,2.在测量位置执行测量步骤,该测量步骤包括:a.提供距离调节操纵命令以设置探头与工件之间的距离,b.将初级测量射束图案投影到工件上,c.获取源自初级测量射束与工件的相互作用的次级测量射束图案,d.基于次级测量射束图案来推导表面信息,e.推导关于探头与工件之间的距离的信息,f.基于距离目标、所推导的距离信息来推导距离偏差,g.提供距离偏差,以用于在后续测量位置执行的距离调节。

主权项:1.一种在测量过程期间对坐标测量机CMM1的非接触式测量探头5与工件20之间的距离102进行自动控制的方法,所述方法包括以下步骤:-提供关于所述探头5相对于所述工件20的侧向移动的标称操纵命令25,所述标称操纵命令25被配置为操纵所述工件20和或所述探头5通过包括多个测量位置22、23、24、241的测量路径21,-在第一测量位置22执行第一测量步骤,所述第一测量步骤包括:o提供第一距离调节操纵命令,所述第一距离调节操纵命令被配置为提供所述探头5与所述工件20之间的所述距离102的设置,o将初级测量射束图案53投影521到所述工件20上,其中,所述初级测量射束图案53提供多个测量点,o获取551次级测量射束图案56,其中,所述次级测量射束图案56源自所述初级测量射束52与所述工件20的相互作用,o基于所获取的次级测量射束图案56来推导561表面信息562,其特征在于,-提供关于所述探头5与所述工件20之间的目标距离101的探测距离目标数据301,-所述第一测量步骤还包括:o基于所获取的次级测量射束图案56来推导312关于所述探头5与所述工件20之间的所述距离102的第一探测距离信息,o基于所述探测距离目标数据301和所述第一探测距离信息来推导313第一探测距离偏差,o提供所述第一探测距离偏差,以在提供用于在第二测量位置23执行第二测量步骤的第二距离调节操纵命令的步骤加以处理。

全文数据:

权利要求:

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