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一种微机电系统的性能分析方法 

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申请/专利权人:惠州升润电子商务有限公司

摘要:本发明涉及性能分析技术领域,尤其涉及一种微机电系统的性能分析方法。所述方法包括以下步骤:获取MEMS振荡器振荡频率范围数据;对MEMS振荡器振荡频率范围数据进行异频激励信号设计,生成异频激励信号;对异频激励信号进行光学信号转换,获得异频激励光学信号;对异频激励光学信号进行自由空间传输,得到振荡器端异频激励光学信号;对振荡器端异频激励光学信号进行光学载波解调,生成振荡器端异频激励信号;利用振荡器端异频激励信号对MEMS振荡器进行多通道激励并获取激励响应信号;本发明通过非接触式的信号传输、高灵敏度的测量和更精细的相位差分析,实现全面评估MEMS振荡器的性能,并为后续改进和优化提供了有力支持。

主权项:1.一种微机电系统的性能分析方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:获取MEMS振荡器振荡频率范围数据;对MEMS振荡器振荡频率范围数据进行异频激励信号设计,生成异频激励信号;步骤S2:对异频激励信号进行光学信号转换,获得异频激励光学信号;对异频激励光学信号进行自由空间传输,得到振荡器端异频激励光学信号;对振荡器端异频激励光学信号进行光学载波解调,生成振荡器端异频激励信号;步骤S3:利用振荡器端异频激励信号对MEMS振荡器进行多通道激励并获取激励响应信号;对激励响应信号进行频谱分析,生成响应信息幅度数据;基于振荡器端异频激励信号对响应信息幅度数据进行频率稳定性评估,生成振荡器频率稳定性数据;步骤S4:基于预设的稳定参考信号对激励响应信号进行多通道相位比较,生成相位差信号集;对相位差信号集进行统计分析,得到相位噪声数据;步骤S5:对振荡器频率稳定性数据和相位噪声数据进行拟合回归线计算,得到趋势关系数据;根据趋势关系数据对MEMS振荡器进行振荡器性能评估,生成MEMS振荡器性能评估结果。

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