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申请/专利权人：泰克元有限公司
摘要：本发明涉及一种测试腔室，其包括：腔室主体，具有一侧开放并用于收容装载有电子部件的测试板的收容空间；以及温度调节装置，用于调节在收容于所述腔室主体的所述测试板所装载的电子部件的温度，其中，所述腔室主体具有：支撑轨道，用于支撑收容于所述收容空间的所述测试板，所述支撑轨道配备成被划分为：第一区域，若所述测试板收容于所述收容空间，则所述收容空间通过所述温度调节装置调节温度；第二区域，与所述第一区域分离，装载于所述测试板的电子部件向所述第一区域侧暴露，所述第二区域被所述测试板阻断与所述第一区域之间的空气交换。
主权项：1.一种测试腔室，包括：腔室主体，具有一侧开放并用于收容装载有电子部件的测试板的收容空间；以及温度调节装置，用于调节在收容于所述腔室主体的所述测试板所装载的电子部件的温度，其中，所述腔室主体具有：支撑轨道，用于支撑收容于所述收容空间的所述测试板，所述支撑轨道配备成被划分为：第一区域，若所述测试板收容于所述收容空间，则所述收容空间通过所述温度调节装置调节温度；第二区域，与所述第一区域分离，装载于所述测试板的电子部件向所述第一区域侧暴露，所述第二区域被所述测试板阻断与所述第一区域之间的空气交换。
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