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一种单电子量子态精密测量系统 

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申请/专利权人:四川大学

摘要:本发明涉及一种单电子量子态精密测量系统,包括低温机构、任意波形发生器、第一偏置器、第二偏置器、第一RC滤波器、第二RC滤波器、第一滤波器组、第二滤波器组、第三滤波器组、锁相测量器、第一RLC共振器、第二RLC共振器、第一放大器组、第二放大器组、多通道高速数据采集卡。本发明的单电子量子态精密测量系统,是集量子器件信号激励、滤波、锁相测量及量子散粒噪声交叉关联探测于一体的高技术测量系统,通过三级滤波以及两级放大,保证了测量的精确度。

主权项:1.一种单电子量子态精密测量系统,其特征在于,包括:低温机构,量子器件15设置在所述低温机构上;任意波形发生器1,所述任意波形发生器1设置在常温下;第一偏置器2、第二偏置器3,所述第一偏置器2及所述第二偏置器3设置在所述低温机构上,所述第一偏置器2的第一端电连接所述任意波发生器的一端,所述第二偏置器3的第一端电连接所述任意波发生器的另一端;第一RC滤波器4、第二RC滤波器5,所述第一RC滤波器4、所述第二RC滤波器5设置在所述低温机构上,所述第一RC滤波器4的第一端接地,所述第一RC滤波器4的第二端电连接所述第一偏置器2的第二端,所述第一RC滤波器4的第三端用于电连接所述量子器件15,所述第二RC滤波器5的第一端接地,所述第二RC滤波器5的第二端电连接所述第二偏置器3的第二端,所述第二RC滤波器5的第三端用于电连接所述量子器件15;第一滤波器组6、第二滤波器组7、第三滤波器组8,所述第一滤波器组6、所述第二滤波器组7、所述第三滤波器组8设置在所述低温机构上,所述第一滤波器组6的一端、所述第三滤波器组8的一端均电连接所述第一偏置器2的第三端,所述第二滤波器组7的一端电连接所述第二偏置器3的第三端;锁相测量器9,所述锁相测量器9设置在常温下,所述锁相测量器9的第一端电连接所述第一滤波器组6的另一端,所述锁相测量器9的第二端电连接所述第二滤波器组7的另一端,所述锁相测量器9的第三端电连接所述第三滤波器组8的另一端;第一RLC共振器10、第二RLC共振器11,所述第一RLC共振器10、所述第二RLC共振器11设置在所述低温机构上,所述第一RLC共振器10的一端电连接所述第一偏置器2的第三端,所述第一RLC共振器10的另一端接地,所述第二RLC共振器11的一端电连接所述第二偏置器3的第三端,所述第二RLC共振器11的另一端接地;第一放大器组12、第二放大器组13,所述第一放大器组12的一端电连接所述第一RLC共振器10的一端,所述第二放大器组13的一端电连接所述第二RLC共振器11的一端;多通道高速数据采集卡14,所述多通道高速数据采集卡14设置在常温下,所述多通道高速数据采集卡14的一端电连接所述第一放大器组12的另一端,所述多通道高速数据采集卡14的另一端电连接所述第二放大器组13的另一端。

全文数据:

权利要求:

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