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LDMOS器件及其制作方法 

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申请/专利权人:上海华虹宏力半导体制造有限公司

摘要:本发明提供一种LDMOS器件及其制作方法,包括:衬底,衬底中形成有沟槽场板;栅极覆盖部分沟槽场板;沟槽场板远离栅极一侧的衬底中形成有漏区;栅极远离沟槽场板一侧的衬底中形成源区;接触孔位于介质层中且暴露出沟槽场板,接触孔中形成有接触柱。本发明在衬底的沟槽中形成有沟槽场板,代替绝缘层中的接触柱场板。沟槽场板作为接触孔刻蚀的底部暴露面,工艺可控;避免接触柱场板下方有氧化层的方案中,接触孔过刻或少刻导致的氧化层残膜厚度不稳定问题。本发明沟槽场板通过接触柱与源区电性连接,有利于降低栅漏边缘电场,提高器件击穿电压并抑制热载流子效应。

主权项:1.一种LDMOS器件,其特征在于,包括:衬底,所述衬底中形成有沟槽场板;所述衬底表面依次形成有栅氧化层和栅极,所述栅极覆盖部分所述沟槽场板;所述沟槽场板远离所述栅极一侧的衬底中形成漏区;所述栅极远离所述沟槽场板一侧的衬底中形成有源区;介质层,所述介质层覆盖所述栅极、所述衬底和所述沟槽场板;接触孔,所述接触孔位于所述介质层中且暴露出所述沟槽场板,所述接触孔中形成有接触柱;所述沟槽场板通过所述接触柱与所述源区电性连接。

全文数据:

权利要求:

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