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光干涉断层摄影装置及摄像头的校准方法 

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申请/专利权人:株式会社湖碧驰;株式会社奥斯维斯

摘要:本发明公开一种复合装置的校准方法,所述复合装置包括:形状测量光投影仪、形状测量摄像头、以及OCT测量部,所述校准方法的特征在于,包括:将形状测量光照射到校准目标,并利用形状测量摄像头检测反射光以获得校准目标的表面形状图像,并根据校准目标的实际形状对校准目标的表面形状图像进行校准的步骤;利用OCT测量部,通过断层测量光扫描校准目标,以获得校准目标的表面及内部的三维图像,从三维图像中提取校准目标的表面形状图像,并根据校准目标的实际表面形状对由OCT测量部获得的校准目标的表面形状图像进行校准的步骤;以及对由形状测量摄像头获得的校准图像和由OCT测量部获得的表面校准图像进行匹配以使其显示在相同的空间坐标的步骤。

主权项:1.一种校准方法,其是复合装置的校准方法,所述复合装置包括:照射形状测量光的形状测量光投影仪12、检测所述形状测量光在目标T的表面反射而形成的反射光以获得目标T的表面形状图像的形状测量摄像头14、以及向目标T透射断层测量光,并检测在目标T的表面及内部断层反射的反射光,以获得目标T的表面及内部截面影像的OCT测量部22,所述校准方法的特征在于,包括:将形状测量光照射到校准目标T,并利用形状测量摄像头14检测所述形状测量光在校准目标T的表面反射而形成的反射光以获得校准目标T的表面形状图像,并根据校准目标T的实际形状对由形状测量摄像头14获得的校准目标T的表面形状图像进行校准的步骤;利用所述OCT测量部22,通过断层测量光扫描所述校准目标T,以获得所述校准目标T的表面及内部的三维图像,从所述三维图像中提取所述校准目标T的表面形状图像,并根据所述校准目标T的实际表面形状对由OCT测量部22获得的校准目标T的表面形状图像进行校准的步骤;以及对由所述形状测量摄像头14获得的校准图像和由OCT测量部22获得的表面校准图像进行匹配以使其显示在相同的空间坐标的步骤。

全文数据:

权利要求:

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