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申请/专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
摘要：本发明提供一种交换机物理层芯片的测试方法、装置及电子设备，所述方法包括：通过管理数据时钟MDC接口和管理数据输入输出MDIO接口，配置物理层PHY芯片的各PHY端口为环回状态；通过对各PHY端口进行线速流量测试，获取各PHY端口的端口测试结果，端口测试结果用于指示PHY端口是否通过测试。本发明通过MDC接口和MDIO接口，可以配置PHY芯片的各PHY端口为环回状态，进而可以对各PHY端口进行线速流量测试，测试过程中向PHY芯片的各PHY端口发送的测试用例数据，通过PHY芯片环回可以分析各PHY端口的环回数据，能够获取各PHY端口的端口测试结果，测试过程无需采用外部治具，能够提高测试效率。
主权项：1.一种交换机物理层芯片的测试方法，其特征在于，包括：通过管理数据时钟MDC接口和管理数据输入输出MDIO接口，配置物理层PHY芯片的各PHY端口为环回状态；通过对各PHY端口进行线速流量测试，获取各PHY端口的端口测试结果，所述端口测试结果用于指示PHY端口是否通过测试；所述通过对各PHY端口进行线速流量测试，获取各PHY端口的端口测试结果，包括：获取各PHY端口的连接状态；若确定各PHY端口的连接状态均为连接建立状态，则通过介质访问控制层MAC的发送TX端口，发送测试用例数据至各PHY端口；通过MAC的接收RX端口，接收各PHY端口的环回数据；基于所述测试用例数据、各PHY端口的环回数据和各PHY端口的连接状态监测数据，获取各PHY端口的端口测试结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州浪潮智能科技有限公司 交换机物理层芯片的测试方法、装置及电子设备
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