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一种粒子计数方法 

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申请/专利权人:苏州苏信环境科技有限公司

摘要:本发明提供一种粒子计数方法,包括:标定光电探测部件;标定不同粒径的粒子对应的门槛电压;基于所述门槛电压设置粒子通道的电位计调整的比较电压值,通过比较器比较光电探测部件的输出电压与所述比较电压值分辨粒子大小并统计数量。通过电位计调节比较器的比较电压值,能够高效且准确的完成计数,成本低;标定粒子计数器后进行计量,步骤简洁且极大降低了最终计量结果的偏差范围,不依赖于标准计数器和人工操作水平,计量效率高、可靠性好,易于实现,有利于计量技术的进一步推广和发展。

主权项:1.一种粒子计数方法,其特征在于:采用粒子计数器进行计数,所述粒子计数器包括光电探测部件、主控板、集成在主控板上的比较器、电位计;计数过程包括:步骤S1.标定所述粒子计数器的光电探测部件;所述光电探测部件包括:激光器、光敏元件和前置放大电路;步骤S2.标定不同粒径的粒子对应的门槛电压;包括在工作区内通过预知粒径的粒子,采集所述前置放大电路输出的波形,统计分析所述波形的峰值,标记所述预知粒径对应的门槛电压;步骤S3.根据粒径设置所述粒子计数器的粒子通道,基于所述粒径的粒子对应的所述门槛电压设置粒子通道的电位计调整的比较电压值;步骤S4.将待测粒子气流通过所述粒子计数器的工作区,比较器比较光电探测部件的输出电压与所述比较电压值分辨粒子大小并统计数量;所述步骤S1之前,将所述激光器的输出光束进行整形得到工作光束;所述步骤S1中包括预先标定激光光强,所述标定激光光强包括:标定所述工作光束在所述工作区的光斑面积大小,以及光斑内光强分布的均匀性;具体过程包括:采用激光光斑采集器获取所述工作光束的光斑信息,所述光斑信息包括光斑图像;根据光斑信息评估光斑大小是否符合要求,光斑内光强分布是否均匀;根据评估结果调节镜片与所述激光器的间距;所述标定激光光强的具体过程还包括:预设所述工作区光功率的标准总值,测量所述工作光束的光功率,基于测量结果,调节所述工作区光功率与所述标准总值一致,之后在所述工作区设置光路转折部件,再进行所述前置放大电路的输出电压的标定,标定所述前置放大电路的输出电压包括:在所述光路转折部件与所述光敏元件之间加设衰减片,减弱照射所述光敏元件的光斑光强;在所述光路转折部件与所述光敏元件之间通过光斑切割夹具,调节照射所述光敏元件的光斑面积。

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