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高斯值测量设备 

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申请/专利权人:深圳市宁达自动化设备有限公司

摘要:高斯值测量设备,它涉及高斯测量技术领域,具体涉及一种可以测量AI产品中磁铁的高斯值的设备。它包括机架、安全罩、定位矫正机构、移动机构、测量机构、定位治具,机架的顶端固定设置有安全罩,安全罩的内部设置有定位矫正机构、移动机构、测量机构,定位矫正机构、移动机构的底端均固定安装于机架的顶端,定位矫正机构的顶端安装有定位治具,定位矫正机构设置于移动机构的内部,移动机构的前端设置有测量机构。采用上述技术方案后,本实用新型有益效果为:它设置有高度激光传感器和磁铁位置检测器,能够精确定位产品中磁铁的位置以及产品中磁铁和高斯探头之间的高度差;能够精确控制产品中磁铁和高斯探头之间的距离,保证了测量值的精确度。

主权项:1.高斯值测量设备,其特征在于:它包括机架1、安全罩2、定位矫正机构3、移动机构4、测量机构5、定位治具6,机架1的顶端固定设置有安全罩2,安全罩2的内部设置有定位矫正机构3、移动机构4、测量机构5,定位矫正机构3、移动机构4的底端均固定安装于机架1的顶端,定位矫正机构3的顶端安装有定位治具6,定位矫正机构3设置于移动机构4的内部,移动机构4的前端设置有测量机构5;所述测量机构5包括高斯探头51、高度激光传感器52、CCD光源53、磁铁位置检测器54,高斯探头51安装于探头固定板455上,高斯探头51的下端后侧设置有高度激光传感器52,高度激光传感器52安装于探头固定板455的下端,高斯探头51的右侧设置有CCD光源53、磁铁位置检测器54,CCD光源53设置于磁铁位置检测器54的正下方。

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权利要求:

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