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申请/专利权人：中国科学院上海微系统与信息技术研究所
摘要：本发明提供一种全张量磁梯度探头及磁场检测系统，包括：安装支架，由上端面、下端面及六个安装平面构成；六个安装平面设置于上端面与下端面之间，且围绕探头中心轴线依次排布；第一、第三、第五安装平面构成一组，第二、第四、第六安装平面构成一组，两组安装平面依次交替分布；其中，第一、第三、第五安装平面与下端面的夹角为锐角，第二、第四、第六安装平面与下端面的夹角为钝角；六个平面梯度计分别安装在六个安装平面上。本发明采用反对称六棱锥构型，探头尺寸小，检测精度高；同时调整平面梯度计的中心高度和中心距离，以降低各平面度计之间的串扰，优化探头尺寸；还将反馈线圈设置于远离探头中心轴线的位置，进一步减小串扰。
主权项：1.一种全张量磁梯度探头，其特征在于，所述全张量磁梯度探头至少包括：安装支架及六个平面梯度计；所述安装支架包括上端面、下端面及六个安装平面；六个安装平面设置于所述上端面与所述下端面之间，且围绕垂直于所述上端面与所述下端面的探头中心轴线依次排布；第一、第三、第五安装平面构成一组，第二、第四、第六安装平面构成一组，两组安装平面依次交替分布；其中，第一、第三、第五安装平面与所述下端面的夹角为锐角，第二、第四、第六安装平面与所述下端面的夹角为钝角；六个平面梯度计分别安装在六个安装平面上。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 全张量磁梯度探头及磁场检测系统
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