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申请/专利权人：北京华大九天科技股份有限公司

摘要：一种SPICE电压或温度扫描仿真筛选瓶颈单元的方法，包括以下步骤：1）从原始时序路径数据集中筛选出STA时序违例的时序路径数据子集；2）对所述时序路径数据子集的每一路径进行SPICE仿真，筛选出关键路径集；3）对所述关键路径集的元素进行降序排列；4）从元素进行降序排列的关键路径集中获取时序分析对象集；5）从所述时序分析对象集中获取实例单元集合；6）获取InstanceCells的趋势特征综合指标；7）根据趋势特征综合指标，构建时序敏感的时序单元集。本发明的方法，结合STA和SPICE仿真，筛选出关键路径中随着实际电压或温度工作条件变化更敏感的时序单元，有效地缩短了ASIC设计周期。

主权项：1.一种SPICE电压或温度扫描仿真筛选瓶颈单元的方法，包括以下步骤：1从原始时序路径数据集中筛选出STA时序违例的时序路径数据子集；2对所述时序路径数据子集的每一路径进行SPICE仿真，筛选出关键路径集；3对所述关键路径集的元素进行降序排列；4从元素进行降序排列的关键路径集中获取时序分析对象集；5从所述时序分析对象集中获取实例单元集合；6获取InstanceCells的趋势特征综合指标；7根据趋势特征综合指标，构建时序敏感的时序单元集；所述步骤3还包括，对所述关键路径集中所有关键路径进行SPICEVT仿真，设置5个以上的扫描点得到趋势变化明显的数据；组织每一条时序路径的时序数据，计算其趋势灵敏度因子；基于所述趋势灵敏度因子的绝对值对所述关键路径集中的元素进行降序排列；所述步骤5还包括，建立关键路径集和库参考单元集之间的正向映射关系；遍历所有的实例单元集，找到引用的全部库参考单元集；建立库参考单元集和关键路径集之间的反向映射关系；遍历时序分析对象集，找到各个参考单元在所述时序分析对象集内部所有实例单元集合作为实例单元集；所述步骤6还包括，在实例单元集中组织每一个单元点的输入转换和单元延时的时序趋势数据，并分别计算其趋势灵敏度因子；统计计算得到和其中，表示库时序单元例化后的所有单元的转换时间变化趋势灵敏度因子的算数平均；表示库时序单元例化后的所有单元的延迟时间变化趋势灵敏度因子的算数平均；取和的绝对值比值作为实例单元集的趋势特征综合指标。

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