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申请/专利权人：美卓奥图泰芬兰有限公司
摘要：一种X射线荧光分析仪系统，其包括X射线管402、浆料处理单元201和晶体衍射仪601，该晶体衍射仪相对于所述浆料处理单元201沿第一方向定位。晶体衍射仪601从传播到所述第一方向上的荧光X射线207中分离预定波长范围，并将处于所分离的预定波长范围内的荧光X射线导向至辐射检测器602、1605。晶体衍射仪601包括热解石墨晶体603。所述预定波长范围包括预定的感兴趣元素的特征荧光辐射，预定的感兴趣元素的原子序数Z在41到60之间，包括端值。在所述特征荧光辐射的能量下，所述辐射检测器602、1605的能量分辨率优于600eV。
主权项：1.一种X射线荧光分析仪系统，包括：-X射线管402，用于沿第一光轴204的方向发射入射X射线206，-浆料处理单元201，被配置成维持浆料的样品202与所述X射线管之间的恒定距离，-第一晶体衍射仪601，相对于所述浆料处理单元201沿第一方向定位，所述第一晶体衍射仪601被配置成从所述入射X射线在浆料的所述样品中产生并传播到所述第一方向上的荧光X射线207中分离预定第一波长范围，并且被配置成将处于所分离的预定第一波长范围内的荧光X射线导向至第一辐射检测器602、1605，其特征在于：-所述第一晶体衍射仪601包括热解石墨晶体603，-所述预定第一波长范围包括预定的感兴趣元素的特征荧光辐射，所述感兴趣元素的原子序数Z在41到60之间，包括端值，以及-在所述特征荧光辐射的能量下，所述第一辐射检测器602、1605的能量分辨率优于600eV。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 美卓奥图泰芬兰有限公司 X射线荧光分析仪系统和用于对浆料中的感兴趣元素执行X射线荧光分析的方法
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