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申请/专利权人：武汉大学
摘要：本发明涉及一种基于正电子湮没寿命强度的氢氧化铝含量检测方法，将待测硅橡胶制得的检测组件放入正电子寿命谱测量仪的光子闪烁探测器中，检测发射光子，并得到原始湮灭寿命谱图，采用PATFIT程序解谱，获得o‑Ps强度值I3；根据o‑Ps强度值I3与氢氧化铝的质量比例w之间的线性关系，得到测试样品中氢氧化铝的质量比例w。本申请所述的检测方法可以避免微观检测方法层面的不可控因素和随机性，便捷地在宏观层面检测出硅橡胶中ATH的质量比例。
主权项：1.一种基于正电子湮没寿命强度的氢氧化铝含量检测方法，其特征在于，包括如下过程：1样品与标准品制备：将待测硅橡胶或标准品加工成片状的测试样品或标准样品，取两片测试样品或两片标准样品夹住放射源，形成检测组件；2测试步骤：将检测组件放入正电子寿命谱测量仪的光子闪烁探测器中，检测发射光子，并得到原始湮灭寿命谱图，采用PATFIT程序解谱，获得o-Ps强度值I3；3标准曲线绘制：采用具有不同氢氧化铝质量比例的至少三对标准样品组装成检测组件，进行步骤2所述的测试，拟合测得的o-Ps强度值I3与标准样品中氢氧化铝的质量比例w之间的线性关系，得到关系曲线wI3；4样品测试：采用测试样品组装检测组件，进行步骤2所述的测试，根据关系曲线wI3及测得的o-Ps强度值I3计算得到测试样品中氢氧化铝的质量比例w。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉大学 一种基于正电子湮没寿命强度的氢氧化铝含量检测方法
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