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申请/专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
摘要：本申请公开了一种NAP‑XPS和TOF‑SIMS联用的反应表征方法，包括将催化剂置于TOF‑SIMS的腔体内，检测得到反应前质谱信息；将催化剂转移至NAP‑XPS的腔体内，进行催化反应，同时进行原位测试，得到反应过程表面化学状态信息；将催化剂转移至TOF‑SIMS的腔体内，检测得到反应后质谱信息；比对反应前质谱信息和反应后质谱信息，并结合反应过程表面化学状态信息，得到催化剂应用于催化反应的表征信息。本申请能够克服单一表征方法存在的缺陷，实现了催化剂反应前后的准原位TOF‑SIMS测试与反应中原位NAP‑XPS测试相互呼应，可提高检测准确性，有助于提高研究人员对于催化反应真实过程的理解和认识。
主权项：1.一种NAP-XPS和TOF-SIMS联用的反应表征方法，其特征在于，包括：将催化剂置于TOF-SIMS的腔体内，进行TOF-SIMS检测，采集催化剂的表面质谱信号，得到所述催化剂的反应前质谱信息；将所述催化剂转移至NAP-XPS的腔体内，进行催化反应，同时进行原位NAP-XPS测试，得到所述催化剂应用于催化反应的反应过程表面化学状态信息；将经过催化反应的所述催化剂转移至TOF-SIMS的腔体内，进行TOF-SIMS检测，采集催化剂的表面质谱信号，得到所述催化剂的反应后质谱信息；比对所述反应前质谱信息和所述反应后质谱信息，并结合所述反应过程表面化学状态信息，得到所述催化剂应用于催化反应的表征信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 NAP-XPS和TOF-SIMS联用的反应表征方法
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