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申请/专利权人：株式会社日立高新技术
摘要：本发明的发光检测装置由聚光透镜阵列的各聚光透镜个别地对来自发光点阵列的各发光点的发光进行聚光使之成为光束并使各光束并列地射入传感器从而进行检测，该发光检测装置通过使各发光点的直径、各聚光透镜的焦距、间隔、各聚光透镜与传感器的光路长度之间满足预定关系，来使发光检测装置变得小型，同时实现高灵敏度和低串扰。
主权项：1.一种发光检测装置，其特征在于，具有：聚光透镜阵列，其排列有M个聚光透镜，该M个聚光透镜对来自排列有M个发光点的发光点阵列的发光分别个别地进行聚光使之成为光束，其中M≥2；光学元件，其使M个上述光束分别偏转而成为偏转光束；以及至少一个传感器，其使M个上述偏转光束并列地射入，将上述M个发光点的有效直径的平均值设为d，将上述M个聚光透镜的焦距的平均值设为f，将上述M个聚光透镜的间隔的平均值设为p，并将上述M个聚光透镜与M个上述光束射入的上述光学元件的端面之间的最大光路长度的平均值设为g，此时，至少与上述M个发光点的任一个相关的d、f、p、g满足下述关系：f≥12×p1.27×d+1×g。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社日立高新技术 发光检测装置
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