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申请/专利权人：无锡学院
摘要：本发明公开了一种测量模式增益系数的实验装置及实验方法，属于光学的技术领域；该实验装置包括泵浦源、激光芯片、平凸透镜、偏光镜、光纤耦合器、光纤及光谱仪。首先泵浦源对激光芯片两端施加能量，泵浦区域等宽但长度分别为L和2L，芯片两侧辐射发光，通过平凸透镜发散、偏光镜选择、平凸透镜聚焦后将两侧光分别收集到光纤耦合器中，再通过光纤传输给光谱仪。通过分析所得到的两侧偏振光谱，获得相应的放大自发辐射强度，将其带入建立的公式，化简即可计算出激光芯片的模式增益系数。本发明提供一种测量模式增益系数的实验装置及实验方法，能够准确测量和分析包括纳米材料在内的各种材料的模式增益系数。
主权项：1.一种测量模式增益系数的实验装置，其特征在于：包括芯片8，所述芯片8的一侧设置有第一光谱采集模块，所述芯片8的另一侧设置有第二光谱采集模块；所述第一光谱采集模块包括从所述芯片8的近端向远端顺次设置的第一光学耦合模块、第一光纤耦合器2和第一光谱仪6；所述第二光谱采集模块包括从所述芯片8的近端向远端顺次设置的第二光学耦合模块、第二光纤耦合器3和第二光谱仪7；所述芯片8包括吸收区10、位于吸收区10一端的泵浦区一901以及位于吸收区10另一端的泵浦区二902；所述泵浦区一901的一侧设有泵浦源一101，所述泵浦区二902的一侧设有泵浦源二102。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 无锡学院 一种测量模式增益系数的实验装置及实验方法
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