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申请/专利权人：北京物芯科技有限责任公司
摘要：本发明涉及一种RAM访问验证方法、设备及装置，该方法通过根据逻辑访问时序信号，执行对RAM的逻辑访问；将所述逻辑访问时序信号、逻辑访问的数据和地址，传递给封装在RAM检查组件中的抽象RAM接口；所述RAM检查组件中的检查函数通过所述抽象RAM接口的逻辑访问时序信号，确定执行逻辑访问时，根据所述逻辑访问的数据和地址判断逻辑访问是否正确，实现有效提高IC验证过程中验证的完备性、加速验证的收敛、加速项目迭代的速度的技术效果。
主权项：1.一种RAM访问验证方法，其特征在于，包括：根据逻辑访问时序信号，执行对RAM的逻辑访问；将所述逻辑访问时序信号、逻辑访问的数据和地址，传递给封装在RAM检查组件中的抽象RAM接口；所述RAM检查组件中的检查函数通过所述抽象RAM接口的逻辑访问时序信号，确定执行逻辑访问时，根据所述逻辑访问的数据和地址判断逻辑访问是否正确；所述抽象RAM接口的信号包括：时钟信号、复位信号、读写控制信号、地址信号和数据信号；将所述逻辑访问时序信号、逻辑访问的数据和地址，传递给抽象RAM接口，包括：通过适配器执行实例化过程；在实例化过程中，确定所述逻辑访问时序信号对应的时钟信号、复位信号、读写控制信号；根据所述逻辑访问时序信号确定执行逻辑访问时，将逻辑访问的地址传递给所述地址信号，将逻辑访问的数据传递给所述数据信号；所述抽象RAM接口被定义为所述RAM检查组件的类属性；所述RAM检查组件中的函数通过读取所述类属性，获取所述抽象RAM接口中的信号；所述RAM检查组件的类属性还包括关联数组，所述关联数组的索引Index为逻辑访问过的地址，所述关联数组内的元素为逻辑访问过的地址中的数据；所述RAM检查组件中还包括读写函数，用于将逻辑访问过的地址赋值给关联数组的Index，将逻辑访问过的数据赋值给关联数组内的元素。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京物芯科技有限责任公司 一种RAM访问验证方法、设备及装置
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