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申请/专利权人:致真精密仪器(青岛)有限公司
摘要:本发明涉及高精度检测技术领域,具体的,本发明涉及一种激光光路调整方法及装置,包括以下步骤:调整位移台模块至初始状态,将被检测物置于位移台模块上,光源模块发射激光经被检测物反射后形成反射光,投射至反射光接收模块;旋转位移台模块,以使反射光在感光元件感光面上扫掠,记录旋转角度及相应光信号强度;根据旋转角度及相应光信号强度,识别光信号强度随旋转角度变化的对称位置,将对应角度作为调整目标角度;进行至少两次位移台模块旋转步骤、调整目标角度确定步骤,使反射光在感光面上的扫掠路径成夹角,并获取至少两个调整目标角度;基于调整目标角度调整位移台模块,以使反射光的光斑投射于感光面的中心位置。
主权项:1.一种激光光路调整方法,用于对磁光克尔检测设备中被检测物反射的反射光光路进行校正,其特征在于,包括以下步骤:初始定位步骤:调整位移台模块至初始状态,将被检测物置于所述位移台模块上,光源模块发射激光投射至所述被检测物上,经所述被检测物反射后形成反射光,所述反射光投射至反射光接收模块;位移台模块旋转步骤:旋转所述位移台模块,以使所述反射光在所述反射光接收模块的感光元件感光面上扫掠,记录位移台模块的旋转角度及相应光信号强度;调整目标角度确定步骤:根据所述位移台模块的旋转角度及相应光信号强度,识别所述光信号强度随旋转角度变化的对称位置,将对称位置对应的旋转角度作为所述位移台模块的调整目标角度;光路校正步骤:进行至少两次所述位移台模块旋转步骤、所述调整目标角度确定步骤,使所述反射光在所述感光面上的扫掠路径成夹角,并获取至少两个调整目标角度;基于所述调整目标角度调整所述位移台模块,以使所述反射光的光斑投射于所述感光元件感光面的中心位置。
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