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申请/专利权人：苏州元脑智能科技有限公司
摘要：本发明涉及电路板走线设计技术领域，公开了一种差分线凸包阻抗优化方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法包括：如果差分线传输信号的传输速率大于或等于第一预设阈值且损耗裕量小于或等于第二预设阈值，获取凸包的总长度；确定初始阻抗优化结构的尺寸信息和位置信息；尺寸信息包括初始阻抗优化结构的结构长度，且初始阻抗优化结构的结构长度不小于凸包的总长度；根据尺寸信息和位置信息在印制电路板上生成初始阻抗优化结构，对差分线进行阻抗仿真，并根据第一阻抗仿真结果，调整初始阻抗优化结构的位置信息，得到目标阻抗优化结构。本发明解决了差分线在凸包处的阻抗会造成差分信号的反射现象，影响差分信号的完整性的问题。
主权项：1.一种差分线凸包阻抗优化方法，其特征在于，所述方法包括：在差分线上存在第一预设数量个连续凸包的情况下，获取所述差分线传输信号的传输速率和损耗裕量，其中，所述差分线位于印制电路板上；在所述传输速率大于或等于第一预设阈值且所述损耗裕量小于或等于第二预设阈值的情况下，获取所述凸包的总长度；确定初始阻抗优化结构的尺寸信息和所述初始阻抗优化结构在所述印制电路板上相对于所述凸包的位置信息；所述尺寸信息包括所述初始阻抗优化结构的结构长度，且所述初始阻抗优化结构的结构长度不小于所述凸包的总长度；根据所述尺寸信息和所述位置信息在所述印制电路板上生成所述初始阻抗优化结构，对所述差分线进行阻抗仿真，并根据第一阻抗仿真结果，调整所述初始阻抗优化结构的所述位置信息，得到目标阻抗优化结构，其中，所述目标阻抗优化结构用于优化所述凸包的阻抗。
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权利要求：
百度查询： 苏州元脑智能科技有限公司 差分线凸包阻抗优化方法、装置、计算机设备及存储介质
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