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申请/专利权人：北京晶芯电子有限公司
摘要：本发明提供一种薄膜真空计的电容值检测方法、装置及电子设备，其中的方法包括：基于待检测电容，以及生成的解调信号，获取数字检测信号；根据数字检测信号，计算得到待检测电容的测量结果。该方法通过采用基于数字的控制方式，克服了现有薄膜真空计电容检测方法测量范围比较局限、测量精度不高且响应时间慢的缺陷，实现了薄膜真空计电容值的快速、准确测量，调试过程简便，且测量范围比较广泛。
主权项：1.一种薄膜真空计的电容值检测方法，其特征在于，包括：基于待检测电容，以及生成的解调信号，获取数字检测信号；根据所述数字检测信号，计算得到所述待检测电容的测量结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京晶芯电子有限公司 薄膜真空计的电容值检测方法、装置及电子设备
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