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基于原子层沉积制备导电三氧化钼薄膜的方法 

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申请/专利权人:温州大学

摘要:本发明公开了一种基于原子层沉积制备导电三氧化钼薄膜的方法,其方案包括以下步骤:1在原子层沉积反应腔室中装载硅衬底,将所述反应腔室抽真空,气压稳定在20pa,所述硅衬底为p型或n型晶体硅;2以六羰基钼为钼源、氧气为氧源,进行原子层沉积得到,其中钼源温度为70‑80℃,氧源的等离子体功率为200w‑300w,氧气流量为300sccm,吹扫气体为氮气,氮气流量为100‑150sccm。本发明的方法可在硅片上沉积光滑、均匀、导电的MoO3薄膜,并可推广到其他金属氧化物的低温沉积。

主权项:1.一种基于原子层沉积制备导电三氧化钼薄膜的方法,其特征在于包括以下步骤:1在原子层沉积反应腔室中装载硅衬底,将所述反应腔室抽真空,气压稳定在10-20pa,所述硅衬底为p型或n型晶体硅;2以六羰基钼为钼源、氧气为氧源,在硅衬底上进行原子层沉积,得到导电三氧化钼薄膜,其中钼源温度为70-80℃,氧源的等离子体功率为200w-300w,氧气流量为300sccm,吹扫气体为氮气,氮气流量为100-150sccm。

全文数据:

权利要求:

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