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申请/专利权人：上海化学工业区公共管廊有限公司;上海市特种设备监督检验技术研究院

摘要：本发明涉及特种设备检验检测技术领域，具体公开了一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法。该方法包括：步骤一，采用已知尺寸的物体作为标定物，紧挨着被检测管道放置在侧面，并且与被检测管道轴线在同一平面上；步骤二，采用低能量X射线检测拍摄被检测管道和标定物的图像；步骤三，选中标定物图像，根据标定物的已知尺寸，计算单个像素尺寸；步骤四，采用高能量X射线检测拍摄被检测管道和标定物的图像；步骤五，将步骤二和步骤四得到的图像进行合并，计算得到被检测管道两个侧壁位置的壁厚绝对值。本发明通过已知尺寸的物体作为标定物，直接测量管道壁厚绝对值；还可测量管道测面外部边缘线性区域内的壁厚，测量区域大。

主权项：1.一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一，采用已知尺寸的物体作为标定物，紧挨着被检测管道放置在侧面，并且与被检测管道轴线在同一平面上；步骤二，采用大于30keV且小于等于100keV的低能量X射线检测拍摄被检测管道和标定物的图像；步骤三，在步骤二得到的图像上选中标定物图像，根据标定物的已知尺寸，计算步骤二得到的图像的单个像素尺寸；步骤四，采用大于等于160keV的高能量X射线检测拍摄被检测管道和标定物的图像；步骤五，将步骤二和步骤四得到的图像进行合并，根据合并后图像中被检测管道侧壁的壁厚方向上的像素数量和步骤三中得到的单个像素尺寸，计算得到被检测管道两个侧壁位置的壁厚绝对值；所述步骤二中，所述低能量X射线能清晰观测到被检测管道的外壁轮廓；所述步骤三中，在所述步骤二得到的图像的灰度分布图中，选取所述标定物的灰度突变的第一个峰值峰谷的平均值为起点，选取灰度突变的最后一个峰值峰谷的平均值为终点，该起点和该终点之间的区域是所述标定物图像范围，统计该区域内的像素数量，将所述标定物的已知尺寸除以像素数量，计算出步骤二得到的图像的单个像素尺寸；所述步骤四中，所述高能量X射线能完全穿透被检测管道，并能清晰观测到被检测管道的内壁轮廓。

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