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申请/专利权人：西门子股份公司
摘要：本发明总地来说涉及一种用于确定工艺光E10的辐射强度和或波长的方法、一种用于确定熔融工艺的工艺偏差DEV的方法和一种用于闭环控制熔融工艺的方法。为了改善对熔融工艺的工艺光的辐射强度和或波长的确定，建议步骤：‑提供用于路径x的区段dtPOI的功率分布图P作为用于机器学习的模型MLM、尤其是用于神经网络的输入变量IN，其中，通过历史和或合成的功率分布图PH和工艺光E10的配属的历史或者合成的辐射强度E10H和或波长20训练所述模型MLM，并且‑确定工艺光E10的辐射强度和或波长作为模型MLM的输出变量OUT。
主权项：1.一种用于确定粉末床中的工艺光E10的辐射强度和或波长的方法，其中，该工艺光包括可见和近红外范围内的放射，并且其中，构成工艺光E10的基础的熔池10能够通过用能量束50沿着至少一个路径x照射金属材料20产生，其中，能量束50是激光束并且能够按照功率分布图P沿着路径x运动，所述方法包括步骤：-提供用于路径x的区段dtPOI的功率分布图P作为用于被监督的机器学习的模型MLM的输入变量IN，其中，将所述模型MLM用作回归量并且通过历史和合成的功率分布图PH和工艺光E10的配属的历史或者合成的辐射强度E10H和或波长针对金属材料20训练所述模型MLM，其中，历史功率分布图和与之配属的历史辐射强度和或波长能够由之前的一系列测量提供，其中，由基于模型的算式将基于模型的功率分布图转换为与之配属的合成的辐射强度和或波长，随即又将合成的辐射强度和或波长用于模型的训练，并且-确定工艺光E10的辐射强度和或波长作为模型MLM的输出变量OUT。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西门子股份公司 工艺光的辐射强度和/或波长的确定
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