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采用边界元方法的超导量子位的表面参与分析 

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申请/专利权人:国际商业机器公司

摘要:提供了有关使用边界元方法对一个或多个超导量子位进行自主表面参与分析的技术。例如,本文描述的一个或多个实施例可以包括一种系统,所述系统可以包括可以存储计算机可执行组件的存储器。所述系统还可以包括处理器,所述处理器可操作地耦合到所述存储器,并且可以执行存储在所述存储器中的计算机可执行组件。所述计算机可执行组件可以包括可操作地耦合到所述处理器的仿真组件,所述仿真组件可以通过将导体‑电介质界面和电介质‑电界面离散化为多个面板来分析所述超导量子位的表面参与。

主权项:1.一种系统,包括:存储计算机可执行组件的存储器;并且执行存储在所述存储器中的所述计算机可执行组件的处理器,其中,所述计算机可执行组件包括:可操作地耦合到所述处理器的仿真组件,其:通过将导体-电介质界面和电介质-电介质界面划分为多个面板来分析超导量子位的表面参与,其中所述电介质-电介质界面包括其中超导量子位的电介质衬底与电介质化合物相邻的第一区域,并且所述多个面板中的至少一个面板包括从所述电介质衬底延伸到所述电介质化合物中的三维面板,以及基于对所述表面参与的分析的结果,确定存储在包括在所述导体-电介质界面和电介质-电介质界面内的相应的非晶层中的能量的数量。

全文数据:

权利要求:

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