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申请/专利权人：上海广为焊接设备有限公司
摘要：本申请提供了一种控制电路检测方法、信号采样电路、供电设备及存储介质。所述控制电路检测方法包括：提供信号采样电路，用于接收由供电设备的控制电路发出的被采样信号，并根据被采样信号生成采样信号；设置第一预设采样时刻和第二预设采样时刻，第一预设采样时刻和第二预设采样时刻分别处于被采样信号波形的高电平阶段和低电平阶段；在第一预设采样时刻及第二预设采样时刻获取采样信号，并根据采样信号得出被采样信号高电平和被采样信号低电平。所述控制电路检测方法可以分时复用同一信号采样电路在被采样信号波形的高电平阶段和低电平阶段获取采样信号。
主权项：1.一种控制电路检测方法，其特征在于，包括如下步骤：提供信号采样电路，用于接收由供电设备的控制电路发出的被采样信号，并根据所述被采样信号生成采样信号；设置第一预设采样时刻和第二预设采样时刻，所述第一预设采样时刻和所述第二预设采样时刻分别处于所述被采样信号波形的高电平阶段和低电平阶段；在所述第一预设采样时刻及所述第二预设采样时刻获取所述采样信号，并根据所述采样信号得出所述被采样信号高电平和所述被采样信号低电平。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海广为焊接设备有限公司 控制电路检测方法、信号采样电路、供电设备及存储介质
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