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一种熔滴过渡过程的识别方法、系统、存储介质及产品 

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申请/专利权人:北京理工大学

摘要:本发明公开一种熔滴过渡过程的识别方法、系统、存储介质及产品,涉及电弧增材制造技术领域。所述方法包括:根据当前像素的值确定下一个像素的左方像素的值;根据当前像素对应的队列确定当前像素的上方像素的值、下一个像素的左上方像素的初始值和当前像素的右上方像素的初始值;确定当前像素的右上方像素的值;确定下一个像素的左上方像素的值;根据当前像素及四个方向的值确定当前像素对应的连通域结果;根据连通域结果对连通域数目进行更新,然后,更新当前像素重复上述步骤,直到场信号为1,根据连通域数目进行熔滴过渡过程的识别。本发明缓存的中间数据较少,对硬件资源要求低。

主权项:1.一种熔滴过渡过程的识别方法,其特征在于,包括:获取熔池-熔滴图像中当前像素的值、当前像素的左方像素的值和当前像素的左上方像素的值、当前像素对应的行信号和当前像素对应的场信号;所述当前像素的值为当前像素二值化处理后的像素值;若当前像素对应的场信号为0,则执行连通域判断步骤;所述连通域判断步骤包括:根据当前像素对应的行信号和当前像素的值确定下一个像素的左方像素的值;将当前像素的值存入上一个像素对应的队列中得到当前像素对应的队列;根据当前像素对应的队列确定当前像素的上方像素的值、下一个像素的左上方像素的初始值和当前像素的右上方像素的初始值;根据当前像素的行信号和当前像素的右上方像素的初始值确定当前像素的右上方像素的值;根据当前像素的行信号和下一个像素的左上方像素的初始值确定下一个像素的左上方像素的值;根据当前像素的值、当前像素的左方像素的值、当前像素的上方像素的值、当前像素的右上方像素的值和当前像素的左上方像素的值确定当前像素对应的连通域结果,所述连通域结果为是否增加新的连通域;根据当前像素对应的连通域结果对连通域数目进行更新,然后,更新当前像素,并返回获取熔池-熔滴图像中当前像素的值、当前像素的左方像素的值和当前像素的左上方像素的值、当前像素对应的行信号和当前像素对应的场信号;若当前像素对应的场信号为1,则根据更新后的连通域数目确定所述熔池-熔滴图像是否处于熔滴过渡的过程。

全文数据:

权利要求:

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