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一种PIV示踪颗粒分离方法 

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申请/专利权人:国家能源集团科学技术研究院有限公司

摘要:本发明涉及PIV示踪粒子技术领域,具体涉及一种PIV示踪颗粒分离方法,该方法包括根据目标流体密度选定原料;根据原料选取两种物质进行混合,配制出第一分离液和第二分离液;将第一分离液和原料加入分离装置的上分离桶中;对第一分离液和原料进行搅拌,直至下分离桶底部的原料不再增加;将下分离桶底部的原料取出,以获得第一分离原料;将第二分离液和第一分离原料加入上分离桶中;对第二分离液和第一分离原料进行搅拌,直至下分离桶底部的第一分离原料不再增加;将上分离桶顶部的第一分离原料取出,以获得目标原料。运用该方法,通过分离出与目标流体密度更接近的示踪粒子,可满足大区域、长耗时、高精度实验对示踪粒子较小沉降速度的需要。

主权项:1.一种PIV示踪颗粒分离方法,其特征在于,所述PIV示踪颗粒分离方法包括以下步骤:S1、根据目标流体的密度选定设定密度区间的原料;S2、根据选定的所述原料,选取两种不同密度的物质进行混合,用于配制第一分离液和第二分离液;S3、将所述第一分离液加入分离装置的上分离桶1中,再将所述原料加入所述上分离桶1中;S4、采用搅拌电机6对所述第一分离液和所述原料进行搅拌,间隔时间T1,再采用所述搅拌电机6对所述第一分离液和所述原料进行搅拌,直至与所述上分离桶1连接的下分离桶2底部的所述原料不再增加;S5、将所述下分离桶2底部的所述原料取出,以获得第一分离原料;S6、将所述第二分离液加入所述上分离桶1中,再将所述第一分离原料加入所述上分离桶1中;S7、采用所述搅拌电机6对所述第二分离液和所述第一分离原料进行搅拌,间隔时间T2,再采用所述搅拌电机6对所述第二分离液和所述第一分离原料进行搅拌,直至所述下分离桶2底部的所述第一分离原料不再增加;S8、将所述上分离桶1顶部的第一分离原料取出,以获得目标原料。

全文数据:

权利要求:

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