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申请/专利权人：鹞视科技(成都)有限公司

摘要：本发明公开了一种自动修正和平滑待检测信号细微突变的方法，涉及微弱信号检测技术领域，包括步骤：S1、读取待检测信号序列，并计算待检测信号序列的一阶差分序列；S2、根据待检测信号序列的一阶差分序列，计算细微突变的差异化特征序列；S3、自动搜索细微突变的差异化特征序列中细微突变的位置并平滑修正，得到修正的一阶差分数值；S4、使用修正的一阶差分数值更新待检测信号序列，完成待检测信号的细微突变平滑，本发明方法逻辑清晰，运算简洁，能够兼容前端接收输入给检测模块的信号不够理想平滑的情况，在系统各功能模块联调时，提升检测模块的独立性，避免联动影响，同时也使后续跟踪、识别等功能模块工作更稳定。

主权项：1.一种自动修正和平滑待检测信号细微突变的方法，应用于微弱信号检测技术领域，其特征在于，包括以下步骤：S1、读取待检测信号序列，并计算待检测信号序列的一阶差分序列；S2、根据待检测信号序列的一阶差分序列，计算细微突变的差异化特征序列；所述步骤S2包括以下子步骤：S21、将一阶差分序列分别赋值给正向滤波序列和反向滤波序列；S22、从序列的第2点开始，沿序列点递增方向，对正向滤波序列进行阿尔法滤波，得到更新后的正向滤波序列；S23、从序列的倒数第2点开始，沿序列点递减方向，对反向滤波序列进行阿尔法滤波，得到更新后的正向滤波序列；S24、计算更新后的正向滤波序列与更新后的反向滤波序列的算数平均，得到一阶差分序列的趋势序列；S25、将一阶差分序列和一阶差分序列的趋势序列作差，得到细微突变的差异化特征序列；S3、自动搜索细微突变的差异化特征序列中细微突变的位置并平滑修正，得到修正的一阶差分数值；述步骤S3包括以下子步骤：S31、设置标志变量Flag初始值为0，计数标识n的初始值为2；S32、设置差异化特征的判决门限Th；S33、判断计数标识n的值是否等于细微突变的差异化特征序列的长度值；若是，则进入步骤S38；若否，则进入步骤S34；S34、判断细微突变的差异化特征序列中的第n点处，标志变量Flag是否为0：若是，则进入步骤S35；若否，则表示细微突变的差异化特征序列中的第n-1点处存在细微突变，将标志变量Flag的值设置为0，将n的值加1，并返回步骤S33；S35、判断细微突变的差异化特征序列中的第n点是否存在细微突变：若是，则进入步骤S36；若否，则将n的值加1，并返回步骤S33；S36、将细微突变的差异化特征序列中的第n点的一阶差分数值，替换为一阶差分序列内前后相邻两点的平均值，并进入步骤S37；S37、设置标志变量Flag为1，将n的值加1，并返回步骤S33；S38、完成细微突变的差异化特征序列中细微突变的平滑修正，得到修正的一阶差分数值；S4、使用修正的一阶差分数值更新待检测信号序列，完成待检测信号的细微突变平滑；所述步骤S4包括以下子步骤：S41、将检测信号序列中每个点的值加上修正的一阶差分数值中对应点的值，作为第一次更新的待检测信号序列；S42、将检测信号序列中第一个点的值赋值给第一次更新的待检测信号序列中的第一个点，得到完全更新后的待检测信号序列，完成待检测信号的细微突变平滑。

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