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一种基于双光路校正的腔衰荡系统及气体测量方法 

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申请/专利权人:武汉敢为科技有限公司

摘要:本发明提供了一种基于双光路校正的腔衰荡系统及气体测量方法,系统包括:第一测量光路系统、第二测量光路系统和双光路校正系统;所述第一测量光路系统与第二测量光路系统共用谐振腔,且通过所述双光路校正系统保持衰荡信号一致性。本发明解决了现有技术腔衰荡光路系统稳定性和可靠性差技术问题。

主权项:1.一种基于双光路校正的腔衰荡系统,其特征在于,包括:第一测量光路系统、第二测量光路系统和双光路校正系统;所述第一测量光路系统与第二测量光路系统共用谐振腔,且通过所述双光路校正系统保持衰荡信号一致性。

全文数据:

权利要求:

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