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申请/专利权人：同方威视科技(北京)有限公司;同方威视技术股份有限公司;清华大学
摘要：本公开提供了一种放射性探测器的能量刻度确定方法、装置、设备和介质，该方法包括：获取多个已知核素的本底能谱，其中，本底能谱是放射性探测器对多个已知核素进行探测得到的；对本底能谱进行差分处理，得到道址‑差分图，其中，道址‑差分图包括从多个全能峰信息中确定的多个有效峰信息；根据道址‑差分图确定目标系数，其中，目标系数表征初始能量道址函数式中的一个刻度系数；根据道址‑差分图和初始能量道址函数式，确定目标能量道址函数式，其中，目标能量道址函数式表征放射性探测器的能量刻度。
主权项：1.一种放射性探测器的能量刻度确定方法，包括：获取多个已知核素的本底能谱，其中，所述本底能谱是所述放射性探测器对多个所述已知核素进行探测得到的；对所述本底能谱进行差分处理，得到道址-差分图，其中，所述道址-差分图包括从多个全能峰信息中确定的多个有效峰信息；根据所述道址-差分图确定目标系数，其中，所述目标系数表征初始能量道址函数式中的一个刻度系数；根据所述道址-差分图和所述初始能量道址函数式，确定目标能量道址函数式，其中，所述目标能量道址函数式表征所述放射性探测器的所述能量刻度。
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百度查询： 同方威视科技(北京)有限公司 同方威视技术股份有限公司 清华大学 放射性探测器的能量刻度确定方法、装置、设备和介质
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