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申请/专利权人：苏州明彰半导体技术有限公司
摘要：本发明涉及一种适用于SDADC调制器电容失配的整形算法，通过由环路滤波器、溢出检测单元、全排序电路、比较器构成基础电路，且包括两级积分阶段、溢出检测阶段、排序比较阶段。由此，可引入全排序算法，实现了一种可灵活应用于采用了奇数个DAC反馈电容的Sigma‑Delta调制器的二阶失配整形算法。采用了引入溢出检测电路，确保二阶失配整形算法在实际工程应用中，不会出现数字码溢出的风险。
主权项：1.适用于SDADC调制器电容失配的整形算法，其特征在于：通过由环路滤波器、溢出检测单元、全排序电路、比较器构成基础电路，且包括以下步骤，步骤一，两级积分阶段，通过环路滤波器对单位元件DAC的控制信号进行两次积分，实现二阶失配整形；步骤二，溢出检测阶段，通过溢出检测单元对环路滤波器中各级积分器的输出进行实时监测，并将其与设定的量程进行比较，根据预设执行对应的操作；步骤三，排序比较阶段，通过全排序电路对经过溢出检测单元的环路滤波器第二级积分输出结果进行完全排序，通过数字比较器将权重向量信号进行处理，得到当前周期的DAC控制信号，将其用于电容DAC阵列的切换。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州明彰半导体技术有限公司 适用于SDADC调制器电容失配的整形算法
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