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申请/专利权人：西安西谷微电子有限责任公司
摘要：本发明属于芯片测试技术领域，公开了一种MCU芯片测试系统及其测试方法，包括：承载模块，承载待测MCU芯片，输出MCU芯片配置程序；存储模块，将每一测试项的测试程序存储到MCU芯片配置程序；文件生成模块，生成MCU配置程序的可执行文件，并下载可执行文件到所述待测MCU芯片中；中央控制模块，按顺序向测试模块发送指向所述每一测试项的通信协议指令；测试模块，通过连接承载模块控制待测MCU芯片执行所述通信协议指令指向的测试项的测试程序，实现待测MCU芯片的测试。本发明突破了MCU测试壁垒，通过通信协议指令，实现了对复杂配置程序的整合，使得MCU可以一次性载入复杂的多模块综合配置程序，实现MCU自测试。
主权项：1.一种MCU芯片测试系统，其特征在于，该系统具体包括：承载模块，用于承载待测MCU芯片，输出MCU芯片配置程序；存储模块，与承载模块连接，将每一测试项的测试程序存储到MCU芯片配置程序中，同时将测试数据上传到云端，实现数据的存储、备份、共享和跨团队协作；文件生成模块，与存储模块、承载模块连接，用于生成MCU配置程序的可执行文件，并下载所述可执行文件到所述待测MCU芯片中；还集成远程测试操作与监控系统，使操作人员通过网络接口远程上传、下载测试程序，实时监控测试进程，并获取测试结果；中央控制模块，与文件生成模块连接，用于按顺序向测试模块发送指向所述每一测试项的通信协议指令，同时通过机器学习算法不断优化测试参数和流程；测试模块，与中央控制模块、承载模块连接，根据通信协议指令，通过连接承载模块控制待测MCU芯片执行所述通信协议指令指向的测试项的测试程序，实现所述待测MCU芯片的测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安西谷微电子有限责任公司 一种MCU芯片测试系统及其测试方法
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