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申请/专利权人：上海朋熙半导体有限公司
摘要：本申请实施例涉及芯片检测技术领域，公开了一种芯片Pad中针痕触边检测方法、设备、介质及产品。方法包括采集并制作模板图片；获取训练图片，通过LINE‑MOD算法对所述训练图片进行处理，得到所述训练图片的特征向量和特征点坐标；获取待检测图片，通过LINE‑MOD算法将所述待检测图片与所述模板图片进行匹配，输出检测图片；通过自适应阈值分割算法对所述检测图片进行处理；分割所述检测图片的针痕区域，并计算所述针痕区域与Pad边框的尺寸间距，输出检测结果。可以至少用以解决Pad检测过程中精度不足的技术问题。
主权项：1.一种芯片Pad中针痕触边检测方法，其特征在于，所述方法包括：采集并制作模板图片；获取训练图片，通过LINE-MOD算法对所述训练图片进行处理，得到所述训练图片的特征向量和特征点坐标；将所述特征向量和特征点坐标保存到对应的所述模板图片；获取待检测图片，通过LINE-MOD算法将所述待检测图片与所述模板图片进行匹配，输出检测图片；所述检测图片包括匹配得到的Pad信息、位置和置信度；通过自适应阈值分割算法对所述检测图片进行处理；分割所述检测图片的针痕区域，并计算所述针痕区域与Pad边框的尺寸间距，输出检测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海朋熙半导体有限公司 一种芯片Pad中针痕触边检测方法、设备、介质及产品
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