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申请/专利权人：华侨大学

摘要：本发明公开了一种克服继电器金属表面反光的磁路落差检测方法及系统，针对金属表面存在的局部高反光区域影响检测问题，通过设计调整散斑图案，实现散斑投影精确三维重建。本发明首先设计散斑图像的参数包括大小和密度，再利用双目立体视觉原理，采用改进的NCC算法实现立体匹配最终获得被测继电器的三维轮廓信息，然后利用随机采样一致性RANSAC结合欧式聚类算法分割点云，得到继电器磁路落差平面，并进行评测，克服了存在反光闪亮点情况下继电器的检测难题，结果准确可靠。

主权项：1.一种克服继电器金属表面反光的磁路落差检测方法，其特征在于，包括如下步骤：S101，搭建包括左相机、右相机和投影仪的双目结构光视觉系统，通过相机标定得到左右相机的内参和外参；S102，生成编码大小和密度可调节且随机分布的数字散斑图像；S103，将所述散斑图像通过所述投影仪投影到被测继电器表面，通过所述左相机和右相机对投影后的物体进行拍摄，得到左右两图像，对左右两图像进行极线矫正，并对矫正后的左右两图像采用改进的NCC算法进行匹配，得到视差图像；S104，利用标定得到的相机内外参数及视差图像获取深度信息，计算被测继电器的三维数据，进行三维点云重建；S105，对继电器磁路落差进行评测，对所述三维点云进行去噪滤波，通过点云分割得到磁路两平面数据，利用求距离公式取得磁路落差结果；所述S102中，生成数字散斑图像的方法，包括：S1021，设置一张大小为h×w的图像，设置方形散斑大小为d×d；S1022，由散斑设计条件可以得到散斑点数量为u×v， 其中，floor表示取整函数；u表示图像中横向的散斑数量；v表示图像中纵向的散斑数量；S1023，构造一个u×v大小的二维数组index，同时为每个3d×3d大小的九宫格窗口设置对应序号为0-8；遍历该二维数组，通过rand随机函数获得每个窗口的随机序号值，根据散斑的设计条件，将符合判断条件的窗口序号值存入二维数组index中；如下：index[i][j]＝rand9 S1024，将该二维数组中的序号值转换为散斑点坐标x,y，转换公式如下： 其中，散斑的横坐标x为当前序号值除3取整，纵坐标y为将当前序号值除3取余；S1025，根据设置的散斑大小和散斑点坐标，生成最终的散斑图像。

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