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一种微米双内凹结构表面的制造方法、超疏油材料 

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申请/专利权人:哈工大郑州研究院;哈尔滨工业大学

摘要:本发明提供一种微米双内凹结构表面的制造方法、超疏油材料,属于功能性材料技术领域,制造方法包括:在半导体材料的表面设置光刻胶层;使预设微图案转移至光刻胶层上,得到光刻胶掩模板;对二氧化硅层进行第二刻蚀,在二氧化硅层上与预设微图案对应位置形成第一圆柱孔阵列;对硅层进行第三刻蚀,在硅层中形成第二圆柱孔,去除光刻胶掩膜板;形成沉积二氧化硅层,去除位于第二圆柱孔底部的沉积二氧化硅层;采用Bosch工艺,对第二圆柱孔中的硅进行各向异性刻蚀;继续对第二圆柱孔中硅层进行各向同性刻蚀,形成了微米双内凹结构表面。本发明能够增大结构表面的突破压和三相界面稳固性,实现对低表面张力液体的稳固超排斥。

主权项:1.一种微米双内凹结构表面的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1、在半导体材料的表面设置光刻胶层;其中,所述半导体材料包括上下设置的硅层(1)和二氧化硅层(2),所述光刻胶层设置在所述二氧化硅层(2)远离所述硅层(1)一侧的表面上,所述二氧化硅层(2)的厚度为0.2-2μm;步骤S2、对所述光刻胶层进行第一刻蚀,使预设微图案转移至光刻胶层上,得到光刻胶掩模板(3);其中,所述预设微图案为圆孔阵列结构,所述圆孔阵列结构中相邻圆孔的间距相同;所述预设微图案中,所述圆孔的直径为3μm,所述圆孔的圆心距为8μm;步骤S3、根据所述光刻胶掩模板(3),对所述二氧化硅层(2)进行第二刻蚀,在所述二氧化硅层(2)上与所述预设微图案对应位置形成第一圆柱孔阵列,所述第一圆柱孔阵列中包括多个周期性阵列的第一圆柱孔,得到第一刻蚀半导体材料;步骤S4、在所述二氧化硅层(2)中所述预设微图案的对应区域,沿所述第一圆柱孔的轴向对所述硅层(1)进行第三刻蚀,在所述硅层(1)中形成与所述第一圆柱孔对应的第二圆柱孔,然后去除所述光刻胶掩膜板(3),得到第二刻蚀半导体材料;步骤S5、在所述第二刻蚀半导体材料中具有所述二氧化硅层(2)的一侧沉积二氧化硅,形成沉积二氧化硅层(4),然后通过刻蚀去除位于所述第二圆柱孔底部的所述沉积二氧化硅层(4),得到第三刻蚀半导体材料;步骤S6、采用深反应离子刻蚀机的Bosch工艺,对所述第二圆柱孔中的所述硅层(1)进行各向异性刻蚀,得到第四刻蚀半导体材料;步骤S7、继续对所述第二圆柱孔中所述硅层(1)进行各向同性刻蚀,在所述半导体材料上形成了微米双内凹结构表面。

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