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申请/专利权人：中国人民解放军火箭军工程大学
摘要：本发明公开了一种多源X射线薄壁结构高精度原位检测装置及方法，涉及成像检测技术领域。该装置包括：直流高压电源模块电路，用于采用数字电源控制、LCC拓扑、SiC高频驱动、驱动控制算法，实现多影响因素融合闭环，输出脉冲式高压，供X射线管产生X射线；多源位差X射线成像探测模块，用于构建单一脉冲源牵引下双目投射的集成化硬件架构，进行拍摄对象的缺陷信息采集，获取缺陷图像三维缺陷模型构建模块，用于构建基于双目探测的三维缺陷特征模型，在缺陷图像上完成缺陷三维重构。本发明可有效提升X射线成像效率，提高检测精度，快速实时构建三维缺陷模型，对大型复杂薄壁结构进行实时高效精准的检测。
主权项：1.一种多源X射线薄壁结构高精度原位检测装置，其特征在于，包括直流高压电源模块电路、三维缺陷模型构建模块以及多源位差X射线成像探测模块，其中：直流高压电源模块电路，用于采用数字电源控制、LCC拓扑、SiC高频驱动、驱动控制算法，实现多影响因素融合闭环，输出脉冲式高压，供X射线管产生X射线；多源位差X射线成像探测模块，用于构建单一脉冲源牵引下双目投射的集成化硬件架构，进行拍摄对象的缺陷信息采集，获取缺陷图像；三维缺陷模型构建模块，用于构建基于双目探测的三维缺陷特征模型，在缺陷图像上完成缺陷三维重构。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国人民解放军火箭军工程大学 一种多源X射线薄壁结构高精度原位检测装置及方法
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