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申请/专利权人：合肥维信诺科技有限公司
摘要：本发明实施例公开了一种驱动芯片及其状态自检方法，通过根据接收到的初始化指令进行第一类寄存器的初始化，并接收辅助校验值；在接收到状态自检指令时可以根据第一类寄存器的实际寄存器值计算被校验值，根据被校验值和辅助校验值的关系是否满足预设条件，确定驱动芯片的工作状态是否存在异常。本发明技术方案，将驱动芯片正常工作状态下被校验值和辅助校验值的关系应该满足的条件作为预设条件，并根据被校验值和辅助校验值的关系是否满足预设条件确定驱动芯片的工作状态是否存在异常，实现了驱动芯片工作状态的自检测，进而可以及时发现第一类寄存器所存储数据错乱的异常工作状态，提升驱动芯片工作的可靠性，有利于提升显示品质。
主权项：1.一种驱动芯片的状态自检方法，其特征在于，应用于所述驱动芯片，所述驱动芯片包括第一类寄存器；所述状态自检方法包括：根据接收到的初始化指令进行所述第一类寄存器的初始化，并接收和存储辅助校验值；根据接收到的状态自检指令，并根据所述第一类寄存器的实际寄存器值计算被校验值；根据所述被校验值和所述辅助校验值的关系是否满足预设条件，确定所述驱动芯片的工作状态是否存在异常。
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权利要求：
百度查询： 合肥维信诺科技有限公司 驱动芯片及其状态自检方法
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