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申请/专利权人：南京大学
摘要：本发明公开了用于微纳材料双向同时力学测试的芯片、微纳材料双向同时力学测试装置及向微纳材料提供双向同时拉伸载荷的方法，用于微纳材料双向同时力学测试的芯片包括芯片本体，在芯片本体上设有微纳材料样品位、三角梭、斜梁、支撑梁、对准梁、移动梁及微电极。本发明的芯片能实现待测试样在X方向和Y方向的同时拉伸或压缩，以便于对待测试样进行相关性能的检测，在芯片上设置了微电极，可以灵活的对待测试样在伸缩状态下同步进行电学测试，获得待测试样在不同状态下的电学参数；本发明的微纳材料双向同时力学测试装置，压电驱动件能对待测试样提供连续可控的应变以便于原位同步研究微纳材料的弹性应变和弛豫性能下材料的机械、电学以及热学性能。
主权项：1.一种用于微纳材料双向同时力学测试的芯片，其特征在于：包括芯片本体，在芯片本体上设有微纳材料样品位、三角梭、斜梁、支撑梁、对准梁、移动梁及微电极；所述微纳材料样品位包括沿芯片X方向相对设置的第一端和第二端以及沿芯片Y方向相对设置的第三端和第四端；微纳材料样品位悬空设置在芯片的中部；所述第一端、第二端、第三端和第四端分别用于连接待测试样的四个连接端；两个所述三角梭分别连接在第一端和第二端的外侧端；三角梭的外侧端设有连接梁；所述第三端和第四端的两侧分别通过若干组斜连接梁与两个三角梭的底边连接；所述斜梁的左端固定连接在支撑梁上，斜梁的右端与移动梁固定连接，斜梁的前端和后端分别与两个三角梭的连接梁固定连接；所述移动梁设置在第四端的外侧，并通过对准梁与支撑梁连接；移动梁用于连接移动驱动件；所述微电极设置在芯片本体上，第一端、第二端、第三端和第四端分别与至少一个微电极对应电连接。
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百度查询： 南京大学 用于微纳材料双向同时力学测试的芯片、微纳材料双向同时力学测试装置及向微纳材料提供双向同时拉伸载荷的方法
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