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一种二极管耐老化测试方法 

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申请/专利权人:江苏芯港半导体有限公司

摘要:本发明属于二极管耐老化测试领域,涉及一种二极管耐老化测试方法,本发明通过二极管分组测试流程涵盖多环节以确保质量,首先,从生产批次中抽取样品,分组进行加速、高温存储、高低温循环及盐雾等老化测试,随后,采集各项测试数据,包括加速老化、高温存储、高低温循环及盐雾环境下的表现,数据分析阶段,通过计算性能稳定、热稳定性、热应力分布符合及腐蚀抵抗能力系数,全面评估二极管性能,最终,综合各系数分析耐老化符合指数,并以此为依据判断二极管耐老化程度是否达标,及时发出预警,该流程旨在提前识别潜在质量问题,有效的提升了二极管可靠性与耐久性评估的科学性和准确性。

主权项:1.一种二极管耐老化测试方法,其特征在于:该方法包括:S1、二极管分组测试:从生产的二极管中抽取多个二极管样品进行测试,并将多个二极管样品分组进行加速老化测试、高温存储测试、高低温循环测试和盐雾测试;S2、测试数据采集:通过加速老化测试获取二极管样品的加速老化测试数据;通过高温存储测试获取二极管样品的高温存储测试数据;通过高低温循环测试获取二极管样品的高低温循环测试数据;通过盐雾测试获取二极管样品的盐雾测试数据;S3、测试数据分析:通过二极管样品的加速老化测试数据分析二极管样品的性能稳定程度系数;通过二极管样品的高温存储测试数据分析二极管样品的热稳定性系数;通过二极管样品的高低温循环测试数据分析二极管样品的热应力分布符合系数;通过二极管样品的盐雾测试数据分析二极管样品的腐蚀抵抗能力系数;S4、二极管耐老化分析:根据二极管样品的性能稳定程度系数、热稳定性系数、热应力分布符合系数和腐蚀抵抗能力系数分析二极管样品的耐老化符合指数;S5、二极管耐老化预警:根据二极管样品的耐老化符合指数判断二极管的耐老化程度是否合格,进行预警。

全文数据:

权利要求:

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