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适于半导体器件参数测试的流程生成执行方法 

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申请/专利权人:山东墨氪智能科技有限公司

摘要:本发明涉及一种适于半导体器件参数测试的流程生成执行方法。其包括:获取半导体器件参数测试用的器件测试目标流程图,基于器件测试目标流程图的测试流向,生成对应的器件测试抽象语法树,基于上述的器件测试抽象语法树,生成基于宿主语言的流程逻辑代码文本,基于流程逻辑代码文本执行半导体器件的参数测试,并在执行参数测试后生成参数测试结果,其中,执行半导体器件的参数测试时,配置参数测试用的目标接口以及目标测试参数,以在执行所述半导体器件的参数测试过程中,调用目标接口以及目标测试参数。本发明能有效实现对半导体器件参数测试的需求,提高测试效率以及可靠性。

主权项:1.一种适于半导体器件参数测试的流程生成执行方法,其特征是,所述流程生成执行方法包括:获取半导体器件参数测试用的器件测试目标流程图,其中,所述器件测试目标流程图包括具有若干流程节点的流程节点组以及具有若干有向连接线的有向连接线组,在器件测试目标流程图内,基于流程节点组内的流程节点,至少形成一个开始节点、一个结束节点以及若干测试内容节点;有向连接线组内的有向连接线将流程节点组内的流程节点适配连接,以基于有向连接线的连接指向状态形成器件测试目标流程图的测试流向;基于器件测试目标流程图的测试流向,生成对应的器件测试抽象语法树,其中,生成的器件测试抽象语法树中,器件测试目标流程图的开始节点作为所述器件测试抽象语法树的根节点;基于上述的器件测试抽象语法树,生成基于宿主语言的流程逻辑代码文本,其中,所述流程逻辑代码文本包括器件测试目标流程图的测试流向;基于流程逻辑代码文本执行半导体器件的参数测试,并在执行参数测试后生成参数测试结果,其中,执行半导体器件的参数测试时,配置参数测试用的目标接口以及目标测试参数,以在执行所述半导体器件的参数测试过程中,调用目标接口以及目标测试参数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 山东墨氪智能科技有限公司 适于半导体器件参数测试的流程生成执行方法

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