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申请/专利权人：深圳市振华兴智能技术有限公司

摘要：本发明公开了一种芯片贴片精度视觉检测方法，包括芯片识别和定位系统，所述芯片识别和定位系统包括图像显示组件、模板组件、墨点界面组件。图像显示组件，用于显示已获取的图像并在该图像上设置模板、墨点、搜索区域的范围以及显示标识出的搜索结果；模板组件，所述模板组件具有选取模板、训练模板、保存以及装载模板；墨点界面组件，根据所述a中的墨点的位置、范围、大小、闭值进行墨点分析，再把墨点的边框显示在所述图像显示组件上。本发明芯片贴片精度视觉检测方法克服了传统人工目测和机器对中的弊端，实现对芯片高精度、高速度、高可靠性的检测。

主权项：1.一种芯片贴片精度视觉检测方法，其特征在于，包括芯片识别和定位系统，所述芯片识别和定位系统包括：a、图像显示组件，用于显示已获取的图像并在该图像上设置模板、墨点、搜索区域的范围以及显示标识出的搜索结果；b、模板组件，所述模板组件具有选取模板、训练模板、保存以及装载模板；c、墨点界面组件，根据所述a中的墨点的位置、范围、大小、闭值进行墨点分析，再把墨点的边框显示在所述图像显示组件上；所述芯片贴片精度视觉检测方法包括以下步骤：步骤一，在已经捕获的图像上指定搜索区域,根据设置的相似度和模板进行比较分析；步骤二，把步骤一的分析结果标注在所述图像显示组件上，并将计算出来的结果角度标注边框、结果角度标注边框的中心坐标用十字标出；步骤三，墨点分析可选时，根据模板范围和墨点的位置计算出墨点相对位置，在每一结果上再根据墨点的相对位置、墨点的搜索范围、墨点的大小、墨点的阂值进行墨点分析，判断是否有墨点，当墨点存在，把墨点的边框显示在图像显示组件上；步骤四，程序最终提供出搜索到的每个芯片在图像上的中心坐标、角度以及是否有墨点；步骤五，设定墨点参数和搜索参数：所述墨点参数包括墨点模式、灰度闭值、斑点大小，当芯片亮度较高而墨点亮度较低时墨点模式为黑点白背景，当芯片亮度较低而墨点亮度较高时墨点模式为白点黑背景，灰度闭值用于分割图像以进行连通域分析，斑点大小用于过滤掉不符合墨点大小的连通域；所述搜索参数至少包括搜索个数、相似分数、搜索角度，搜索个数用于限定在当前场景中最多搜索的芯片数目，相似分数用于限定芯片与模板的最小相似程度，搜索角度用于限定符合搜索条件的芯片的角度范围；步骤六，根据步骤五中设定的墨点参数和搜索参数，以实施芯片特征匹配，所述芯片特征匹配包括特征一和特征二，特征一是单芯片的形状特征匹配，特征二是单芯片的角点特征匹配；所述形状特征匹配是根据单芯片的长、宽、面积并通过连通域分析获得，其是对滤波后的单芯片图像进行直方图波形分析，当存在某一闭值使得根据该闭值对图像进行二值化后存在封闭的连通域，则选取这些连通域中最大的一个，该连通域就表示了芯片的内部区域，计算该连通域的长、宽、面积、中心，作为单芯片的形状特征；所述角点特征匹配是提取单芯片图像中的角点以进行匹配。

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