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申请/专利权人:日置电机株式会社
摘要:本发明提供一种能抑制由多个阻抗测定装置的干扰引起的测定频率附近的噪声的影响,进行高精度的阻抗测定的阻抗系统以及方法。上述问题能通过阻抗测定系统等解决,该阻抗测定系统具备第一阻抗测定装置1和第二阻抗测定装置2,具备运算部40、41,该运算部40、41基于在测定期间持续的滤波信号的大小的平均值,测定对象的阻抗,第二阻抗测定装置的测定信号的相位以第二阻抗测定装置的测定信号和调制信号按测定期间的12nn为自然数的第一反转周期交替地成为同相或反相的方式变化,第二阻抗测定装置的运算部在计算平均值之前,将测定信号和调制信号为反相时生成的滤波信号的大小的符号反转。
主权项:1.一种阻抗测定系统,具备第一阻抗测定装置和第二阻抗测定装置,所述阻抗测定系统求出分别连接于所述第一阻抗测定装置和所述第二阻抗测定装置的测定对象的阻抗,其中,所述第一阻抗测定装置和所述第二阻抗测定装置分别具备:测定信号供给部,在规定的测定期间持续地对所述测定对象供给测定信号;测定部,在所述测定期间持续地通过调制信号对由所述测定信号在所述测定对象中产生的信号进行同步检波,进而生成低通滤波后的滤波信号;以及运算部,基于在所述测定期间持续的所述滤波信号的大小的平均值,求出所述测定对象的阻抗,所述第一阻抗测定装置和所述第二阻抗测定装置的测定信号具有大致相同的频率,所述第一阻抗测定装置的测定信号和调制信号在所述测定期间持续具有固定的相位角,所述第二阻抗测定装置的调制信号在所述测定期间持续具有固定的相位角,所述第二阻抗测定装置的测定信号的相位角以所述第二阻抗测定装置的测定信号和调制信号按所述测定期间的12n的第一反转周期交替地成为同相或反相的方式变化,其中,n为自然数,所述第二阻抗测定装置的所述运算部在计算所述平均值之前,将测定信号和调制信号为反相时生成的所述滤波信号的大小的符号反转。
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百度查询: 日置电机株式会社 阻抗测定系统以及方法
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