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申请/专利权人：清华大学
摘要：本申请提出用于缺陷检测的电致发光光子计数相位解析方法及系统，所述方法包括：对待测绝缘件试样施加测试交流电，并以所述交流电的电压作为触发源触发绝缘件试样，以诱发所述绝缘件试样产生电致发光信息；基于所述电致发光信息并利用光子计数测量装置测量预设时长的各周期内所述绝缘件试样的光子计数数据；根据所述预设时长的各周内所述绝缘件试样的光子计数数据确定所述绝缘件试样在预设时长内的相位解析模式图谱。本申请提出的技术方案，不受现场电磁、震动噪声干扰并能识别内部缺陷放电发展早期劣化信息，进而可以精确的提取出绝缘件试样在预设时长内的相位解析模式图谱，进而促进特高压直流输电设备缺陷早期预警及微缺陷检测研究水平。
主权项：1.一种用于缺陷检测的电致发光光子计数相位解析方法，其特征在于，所述方法包括：对待测绝缘件试样施加测试交流电，并以所述交流电的电压作为触发源触发绝缘件试样，以诱发所述绝缘件试样产生电致发光信息；基于所述电致发光信息并利用光子计数测量装置测量预设时长的各周期内所述绝缘件试样的光子计数数据；根据所述预设时长的各周内所述绝缘件试样的光子计数数据确定所述绝缘件试样在预设时长内的相位解析模式图谱。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 清华大学 用于缺陷检测的电致发光光子计数相位解析方法及系统
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