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申请/专利权人：湖南恩智测控技术有限公司
摘要：本申请公开了一种运算放大器检测方法、装置及存储介质，通过运放检测电路可以同时连接多个待测运算放大器，并且可以通过切换单元实现对多个待测运算放大器的轮巡切换，进而通过数据采集单元获取到待测ADC采样结果，最终，可以基于待测ADC采样结果阈值参数完成对待测运算放大器好坏的检测。本申请实施例相较于传统方式而言，可以极大的提高检测效率，并且因为不再是采用人工检测，也可以减少人工主观原因导致的失误出现。
主权项：1.一种运算放大器检测方法，其特征在于，应用于运放检测电路，所述运放检测电路包括控制单元以及皆与所述控制单元电性连接的多个检测子电路、切换单元、数据采集单元；多个所述检测子电路用于与多个待测运算放大器连接，每个所述检测子电路皆用于改变连接的所述待测运算放大器的正输入端和负输入端电阻连接状态；所述切换单元用于切换多个所述待测运算放大器的输出端与所述数据采集单元之间的连通状态，所述数据采集单元用于进行ADC采样；所述运算放大器检测方法包括：获取与多个所述待测运算放大器对应的多个阈值参数，多个所述阈值参数根据所述待测运算放大器的数据手册得到；控制所述切换单元轮询切换多个所述待测运算放大器与所述数据采集单元之间连通状态，每次切换连通状态后，改变处于连通状态的所述待测运算放大器的正输入端串联的电阻和负输入端串联的电阻连接状态，并通过所述数据采集单元获取待测ADC采样结果；根据多个所述阈值参数，以及与多个所述待测运算放大器对应的多个所述待测ADC采样结果，得到多个所述待测运算放大器的检测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 湖南恩智测控技术有限公司 运算放大器检测方法、装置及存储介质
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