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申请/专利权人：武汉大学
摘要：本发明属于微纳光学和模式识别技术领域，公开了一种基于超表面的双偏振模式识别方法。本发明所述方法利用偏振敏感的超表面器件，将光纤中的多种偏振模式分别聚焦于透射空间中同一远场平面上的不同区域，实现对光纤中各个模式类型及其偏振状态的识别。本发明所述方法拓展了光纤模式识别器件的功能自由度，降低了光纤模式识别平台的设计复杂度，促进了光纤模式复用及解复用系统的小型化和集成化。本发明在光纤通信、模式识别、物体分类以及信息加密等领域有着深刻的研究价值和广阔的工业前景。
主权项：1.基于超表面的双偏振模型识别方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，构造由周期性排列的纳米单元结构形成超表面，所述纳米单元结构由纳米设置于基底上形成；步骤2，确定纳米单元结构的材料参数，使得所述超表面对输入端的少模光纤具有高透射率；步骤3，优化所述纳米单元结构的几何参数，使所述超表面具有相位调制的偏振敏感和振幅透射的偏振稳定特性；步骤4，明确少模光纤中存在的可同时且独立传输的偏振模式，计算少模光纤在各个偏振模式下的入射光场复振幅分布，作为所述超表面模式识别平台上各个工作通道的输入；步骤5，选取所述超表面透射空间中同一远场平面上的若干个聚集区域，确定各个偏振模式的出射目标强度分布，作为所述超表面模式识别平台上各个工作通道的输出；步骤6，基于所述超表面模式识别平台的输入和输出，优化计算所述超表面的相位分布；基于相位分布对纳米单元结构有序排布，得到超表面模式识别平台；步骤7，少模光纤以不同偏振模式入射至超表面，经过超表面模式识别平台，分别聚焦于透射空间中同一远场平面上的不同目标区域，实现对光纤中各个模式类型及其偏振状态的识别。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉大学 一种基于超表面的双偏振模式识别方法
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