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申请/专利权人：西门子股份公司
摘要：一种涉及计算电子系统的剩余使用寿命的方法、装置及计算机可读存储介质。方法包括：基于历史数据，确定电子系统的多个退化分布模型；基于比例风险退化模型对历史数据进行处理，得到第一类电子单元的可靠度函数；使用实时的测试数据基于相应的退化分布模型进行计算，得到第一类电子单元的退化指数值；以及使用退化指数值，基于可靠度函数和当前测试时间点，计算电子系统的剩余使用寿命。本方法能够更精确地且更可靠地计算电子系统的剩余使用寿命，由此能够提高电子系统的可靠性。
主权项：一种计算电子系统的剩余使用寿命的方法，包括以下步骤：基于历史数据，确定所述电子系统的多个退化分布模型，其中，所述历史数据包括在每个测量时间点针对多个用于所述电子系统的第一类电子单元中的每个第一类电子单元的测量值，所述测量值对应于所述第一类电子单元中表征所述电子系统的退化水平的特征参数，每个所述退化分布模型对应于一个测量时间点；基于比例风险退化模型对所述历史数据进行处理，得到所述第一类电子单元的可靠度函数；使用实时的测试数据基于相应的退化分布模型进行计算，得到所述第一类电子单元的退化指数值，其中，所述实时的测试数据是所述特征参数在当前测试时间点的测量值，所述相应的退化分布模型是与所述当前测试时间点相对应的退化分布模型；以及使用所述退化指数值，基于所述可靠度函数和所述当前测试时间点，计算所述电子系统的剩余使用寿命。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西门子股份公司 计算电子系统的剩余使用寿命的方法、装置及计算机介质
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