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申请/专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要：一种测量热透镜焦距的方法及装置，采用平面反射镜和凹面反射镜组成谐振腔，一种任意增益晶体作为增益介质，晶体的热透镜效应在腔内等效成一个焦距随晶体温度变化而变化的凸透镜。热透镜焦距的变化会引起整个腔内各处腔模的变化，通过测量端镜处泄露光的光斑大小可以反推出晶体处热透镜的大小。
主权项：1.一种热透镜焦距的测量方法及装置，其特征在于包括下列步骤：①构建谐振腔，至少包括两端的端镜和位于两块端镜之间的待测增益晶体；②使连续泵浦光入射至所述谐振腔内的增益晶体上，并产生直流放大光，部分直流光从所述端镜后表面泄露；③利用CCD采集任一块端镜后方的部分直流光，作为泄露光；④读取所述泄露光的光斑大小，并利用ABCD矩阵解析得到增益晶体处热透镜焦距大小。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院上海光学精密机械研究所 一种测量热透镜焦距的方法及装置
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