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申请/专利权人：武汉凌久微电子有限公司
摘要：本发明提供一种基于配试平台的SoC自动化测试系统及测试方法，包括一套运行于上位机的自动化测试框架、一套用于上位机和配试平台通信的通信协议和一套运行于配试平台的代码，能实现自动化进行下述流程：测试管理、测试用例生成、测试用例交叉编译、可执行文件下发至SOC芯片执行测试、下发指令至配试平台配合相关模块功能测试、回收测试日志、判断测试结果、生成测试日志，配合进行多个模块的功能测试，从而实现SOC芯片设计和验证过程中功能模块测试用例的自动化生成和批量执行，提高测试验证的覆盖率，减少需求的人工操作，提高测试效率；此外，硬件配试平台可使用商用开发板配合测试，具备灵活性和通用性，降低测试所需的成本。
主权项：1.一种基于配试平台的SoC自动化测试系统，其特征在于，包括上位机、硬件配试平台和待测件，所述待测件为SoC开发板，所述上位机通过串口分别与所述硬件配试平台和所述待测件通信连接，所述硬件配试平台的各个通道通过转接板与所述待测件的各个通道连；所述上位机上运行自动化测试框架，用于生成所有测试用例，根据测试任务，选择相应的测试用例，向所述待测件发送测试用例，以及向所述硬件配试平台发送控制指令；所述硬件配试平台，用于当接收到所述控制指令时，运行配合测试代码，以对待测件进行配合测试，并向所述上位机返回测试日志；所述待测件，用于当接收到所述上位机下发的测试用例时，运行测试代码，对待测件的功能模块进行测试，并向所述上位机返回测试日志；所述上位机，用于根据所述硬件配试平台返回的测试日志和所述待测件返回的测试日志，生成测试结果报表。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉凌久微电子有限公司 一种基于配试平台的SoC自动化测试系统及测试方法
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