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申请/专利权人：国网浙江省电力有限公司营销服务中心;国网浙江省电力有限公司;合肥工业大学;浙江华电器材检测研究院有限公司
摘要：本发明公开了一种利用聚乳酸晶胞生长变化预测聚乳酸剩余寿命的方法，在预设温度下对待测聚乳酸样品进行X射线衍射测试，获取衍射图谱数据，通过预先构建预设温度下的老化时长预测模型，以确定晶胞尺寸与老化时长的关联关系，通过X射线衍射测试获取衍射图谱数据来判断晶胞尺寸，进而计算出老化时长，再根据该预设温度下聚乳酸的完整寿命，计算与老化时长的差值，得到剩余寿命。本发明不需要对样品进行结构上的破坏即可准确估算出剩余寿命，且能够被推广到任意温度，减少重复实验，提高预测效率。
主权项：1.一种利用聚乳酸晶胞生长变化预测聚乳酸剩余寿命的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：在预设温度下对待测聚乳酸样品进行X射线衍射测试，获取衍射图谱数据；S2：基于X射线衍射测试的测试参数、衍射图谱数据和样本信息计算晶格间距和晶胞尺寸；S3：若晶格间距产生预期之外的变化，则认为不适用于本方法并结束流程，否则将晶胞尺寸代入预设温度下的老化时长预测模型，计算得到老化时长；S4：根据预设温度下聚乳酸样品的完整寿命，计算与老化时长的差值，得到剩余寿命。
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权利要求：
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